半导体器件是各种电子设备不可或缺的基本构件,其可靠性直接影响设备性能的稳定。因此,在半导体器件的生产和设计全过程中,产品可靠性检测至关重要,借助模拟仿真软件和相关的数据统计工具,分析半导体器件的有效性、可靠性以及寿命周期等就成了生产的关键。本期嘉宾刘超,他长期致力于半导体测试行业的研究,他又有着怎样的行业故事与大家分享?
刘超,陕西夸克自控科技有限公司(以下简称:夸克自控)总经理。他带领团队先后研制出卫星地面检测设备三十余套,并研发了瞬态信号分析仪、数字电路辐射效应测试平台、FPGA故障注入系统、深能级瞬态谱测试仪等极端环境可靠性测试仪器和设备。
陕西夸克自控科技有限公司是一家半导体可靠性测试解决方案提供商,为半导体各环节可靠性测试提供板级、设备级、系统级产品及系统集成服务,并为科研领域提供辐射效应测试服务。
节目现场,总经理刘超先生向大家介绍了企业现行的服务内容及发展理念。夸克自控以用户终端应用需求为关注点,以创新求索、服务至善为理念,秉承诚信、务实、创新、团结的精神,15年来为各行业提供可靠性测试系统定制设计服务,在自动化软件系统、复杂数字系统、高压电源系统、微弱信号检测等领域积累了丰富的技术和工程经验。夸克自控能够提供辐射效应一站式测试服务,包括测试系统搭建、夹具设计、测试及数据分析等,能够帮助用户简化试验过程,节省科研时间。
夸克自控现有的QTSA1501A瞬态信号分析仪可在1.5KV高压偏置下捕获1MHz的SEB瞬态信号,动态电流范围可达180dB,最小电流分辨率10pA。QST2300高压半导体参数测试仪,支持脉冲IV、高压IV、高压CV等测试,最大电压3KV,电流分辨率10fA。QDRP数字电路辐射效应检测平台支持数字器件的SEL、SEU、SEFI、SET等效应检测,如AD/DA、存储器、FPGA、微控制器、DSP等,能够满足单粒子效应、总剂量、中子和质子试验要求。QDT2050A功率器件动态参数测试机适用于第三代半导体功率器件MOSFET、IGBT、IPM等动态参数特性的测试、器件分选,为芯片设计、分选、入厂检测、驱动设计、失效分析等环节提供数据支撑。DLTS设备适用于半导体材料、薄膜材料、纳米材料等杂质检测、深能级缺陷、界面态缺陷的表征和测试。
经过多年发展,夸克自控在极端环境可靠性测试领域已经具备了快速系统搭建能力和一站式服务能力,目前正在进行半导体材料、功率器件、MEMS传感器等测试机的研制,将用于可靠性测试、器件分选、老化筛选等场景。
在节目的最后,总经理刘超先生分享道,未来,夸克自控将紧紧围绕电子元器件及材料的可靠性测试技术,为半导体设计、制造、应用提供可靠性测试系统及解决方案,为我国实现半导体材料及器件自主可控贡献力量。
